{"status":"OK","msg":"Details loaded!","presentation":{"id":100,"title":"DESENVOLVIMENTO E VALIDA\u00c7\u00c3O DE METODOLOGIA ANAL\u00cdTICA PARA A DETERMINA\u00c7\u00c3O DE ENXOFRE, VAN\u00c1DIO E N\u00cdQUEL EM PETR\u00d3LEO POR FILMES FINOS E EDXRF","abstract":"Enxofre, van\u00e1dio e n\u00edquel s\u00e3o contaminantes naturais importantes para estudos geoqu\u00edmicos de origem e classifica\u00e7\u00e3o do petr\u00f3leo. Entretanto, as suas presen\u00e7as s\u00e3o prejudiciais para a qualidade do petr\u00f3leo e dos produtos, pois s\u00e3o associadas \u00e0 corros\u00e3o de equipamentos, \u00e0s desativa\u00e7\u00f5es dos catalisadores de craqueamento e de hidrotratamento e \u00e0 polui\u00e7\u00e3o atmosf\u00e9rica. Com o prop\u00f3sito de obten\u00e7\u00e3o de uma metodologia alternativa aos m\u00e9todos oficiais (ASTM D2622, ASTM D5863, ISO 14597 e ISO 51790, por exemplo) que utilizasse menores quantidades de amostra e de solvente, abordagem simples de corre\u00e7\u00e3o do efeito matriz e instrumenta\u00e7\u00e3o anal\u00edtica acess\u00edvel foi desenvolvido um m\u00e9todo onde esses analitos s\u00e3o quantificados em filmes finos de petr\u00f3leos por meio de um espectr\u00f4metro EDX comercial de bancada e de baixa pot\u00eancia. Os resultados da valida\u00e7\u00e3o mostraram que a metodologia \u00e9 suficientemente sens\u00edvel (limites de detec\u00e7\u00e3o de 0,02 % em massa para o enxofre, 0,8 mg\/kg para o van\u00e1dio e 1,0 mg\/kg para o n\u00edquel), seletiva, robusta, acurada (recupera\u00e7\u00f5es m\u00e9dias de 100,3 % para o enxofre, 98,7 % para o van\u00e1dio e 99,7 % para o n\u00edquel) e precisa (precis\u00f5es globais m\u00e9dias de 7,1 % para o enxofre, 5,3 % para o van\u00e1dio e 5,2 % para o n\u00edquel) para finalidades acad\u00eamicas e industriais quando aplicadas para petr\u00f3leos similares aos brasileiros (tra\u00e7os de van\u00e1dio e n\u00edquel e enxofre at\u00e9 1 % em massa). As amostras devem ter o par\u00e2metro BSW enquadrado (teores de \u00e1gua inferior a 0,5 % em volume e de sais e sedimentos menores que 275 mg\/L), pois as precis\u00f5es s\u00e3o sens\u00edveis a teores elevados de cloro no petr\u00f3leo.","keywords":"Fluoresc\u00eancia de raios X; EDXRF; Contaminantes; Petr\u00f3leo; Filme fino","status":"active","sarx_st":"accepted","user_id":116,"created_at":"2016-07-11 11:21:33","updated_at":"2016-08-25 12:47:39","filename":"Abstract SARX2016_Luiz_Ricardo_Marcelino_final.doc.docx","mode":"oral","sarx_code":"17_O-XRF","poster_group":0,"file":"ddadb1fc31e761c4d0e30de846839609.docx","author":"Luiz Andre Nunes Mendes","affiliation":"Mestre em Ci\u00eancias \/<\/b> PETROBRAS S.A. \/<\/b> Brazil","user":{"id":116,"name":"Luiz Andre Nunes Mendes","degree":"Mestre em Ci\u00eancias","email":"luizmendes@petrobras.com.br","username":"luizmendes@petrobras.com.br","confirmed":1,"confirmation_code":null,"created_at":"2016-05-04 20:41:11","updated_at":"2016-07-29 14:35:02","sarx":1,"affiliation":"PETROBRAS S.A.","address":"Avenida Hor\u00e1cio Macedo, 950 Radial 3 Sala 351","zipcode":"21941-915","state":"Rio de Janeiro","phone":"21 998893694","fax":null,"city":"Rio de Janeiro","country":"Brazil","status":"active","is_admin":0,"category":"student","school":0,"icdd":0}}}